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公司X射线荧光光谱仪（XRF）已经进入调试阶段
来源: | 作者:佚名 | 发布时间: 2020-12-22 | 575 次浏览 | 分享到:


目前公司 X射线荧光光谱仪（XRF）已经进入调试阶段，X射线荧光分析法用于物质成分分析，强度测量的再现性好，便于进行无损分析，分析速度快，应用范围广，分析范围包括原子序数Z≥3的所有元素。除用于物质成分分析外，还可用于原子的基本性质，如氧化数、离子电荷、电负性和化学键等的研究。